一种AI芯片测试管理系统及方法
专利号：CN116593953B
成果方：四川华鲲振宇智能科技有限责任公司
成果类型：发明授权
发明人：赵彦钧
授权日：2023-11-10
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本发明涉及一种AI芯片测试管理系统及方法，属于电数字数据处理技术领域，通过各个装置之间的配合方案，可针对移料驱动装置长期移动取料组件而出现肉眼不可见的异常情况进行实时全面监测管理，避免两个部件长期移动而形成的细微磨损对AI芯片的测试造成影响。通过各个装置之间的有序配合方案，可针对移料驱动装置长期移动取料组件而出现肉眼不可见的异常情况进行快速的精准定位，还可避免大部分检测装置长时间处于无效动作状态，降低系统能耗；取料组件倾斜时，先进行连接松动检测，排除松动后，可根据是否存在异响分别进行磨损检测和形变检测，最终实现异常情况的精准定位，便于相关管理人员后续的应急处理。